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惠瑞捷三年蝉联自动测试设备供应商满意度

惠瑞捷股份有限公司本次于半导体业界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所举办的2011年客户满意度调查中荣膺“测试设备供应商”与“10大芯片制造设备大型供应商”等两大奖项的肯定。根据客户的回复,惠瑞捷荣登世界各大测试设备供应商客户...

分类:名企新闻 时间:2011/5/25 阅读:1427 关键词:供应商惠瑞捷满意度

惠瑞捷荣登测试设备供应商客户满意度之冠

近日,半导体测试公司惠瑞捷股份有限公司本次于半导体业界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所举办的2011年客户满意度调查中荣膺“测试设备供应商“与“10大晶片制造设备大型供应商“等两大奖项的肯定。根据客户的回复,惠瑞捷荣登世界各...

分类:名企新闻 时间:2011/5/23 阅读:550 关键词:测试设备供应商惠瑞捷满意度

Advantest收购惠瑞捷 夺下测试设备龙头位置

新加坡芯片测试设备制造商惠瑞捷(Verigy,Ltd.)已同意日本半导体测试设备巨擘Advantest所提的收购案,Advantest将以每股15美元的价格收购Verigy所有在外流通的普通股票,预估整体收购金额达9亿765万美元(约740亿日圆)

分类:名企新闻 时间:2011/3/24 阅读:397 关键词:测试设备惠瑞捷

惠瑞捷收到爱德万的并购提案

惠瑞捷(Verigy)有限公司日前宣布,已收到来自爱德万公司的并购提案,以每股12.15美元的现金价格收购惠瑞捷的所有上市普通股。惠瑞捷委员会已审查了爱德万的提案,确定其并不优于惠瑞捷与LTX-Credence正在进行的交易。然而,惠瑞捷董事会...

分类:名企新闻 时间:2010/12/17 阅读:515 关键词:惠瑞捷

惠瑞捷与LTX-Credence合并在即

惠瑞捷与LTX-Credence11月18日宣布双方进入的合并协议,合并后的新惠瑞捷在半导体测试业务规模及市场覆盖都将大为提升。惠瑞捷是高性能数字、复杂混合信号及射频系统级芯片测试市场的之一,LTX-Credence的特长在于成本优化解决

分类:名企新闻 时间:2010/11/26 阅读:592 关键词:惠瑞捷

惠瑞捷于京元电子安装多台V93000 SOC测试机台

的半导体测试公司惠瑞捷的长期客户,全球的半导体测试代工厂之一的京元电子股份有限公司(以下简称京元电子),已选择惠瑞捷作为其进军RFSOC(射频系统芯片)元件市场的首席测试设备合作伙伴。京元电子向惠瑞捷定购并安装了数套V93000SOC...

分类:新品快报 时间:2010/9/8 阅读:1445 关键词:SOCV93000测试机台惠瑞捷

惠瑞捷推出全新HSM3G高速存储器测试平台

惠瑞捷推出了全新的HSM3G高速存储器测试解决方案,进一步拓展了面向DDR3世代主流存储器IC和更高级存储器件测试能力的V93000HSM平台。V93000HSM3G独特的优势在于其未来的可升级性,能够为数据传输速度高达6.8Gbps未来的三代DD

分类:新品快报 时间:2010/8/12 阅读:1159 关键词:存储器惠瑞捷

惠瑞捷在韩安装首款V93000 HSM6800测试机

半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)在韩国一家不具名客户的生产厂内安装并验证其首款可生产的V93000HSM6800系统。这套新系统是的一款面向当今GDDR5超快存储集成电路(IC)(运行速度超过每接脚4Gbps)的快速高良率测试解决方案。与当

分类:业界要闻 时间:2010/7/26 阅读:786 关键词:V93000测试机惠瑞捷

惠瑞捷为V93000平台新增 Direct-Probe解决方案

惠瑞捷(Verigy)在其经生产验证的V93000平台中新增了Direct-Probe™解决方案,从而提升了该平台的可扩展性。这款面向数字、混合信号和无线通信集成电路(IC)的高性能探针测试(probetest)产品在进行量产、多点探针

分类:业界要闻 时间:2010/7/2 阅读:518 关键词:V93000惠瑞捷

惠瑞捷V6000 WS测试系统新增SmartRA功能

惠瑞捷公司(Verigy)宣布为旗下V6000WS内存测试系统新增内存冗余分析功能(ScalableMemoryRedundancyTechnology;SmartRA)。SmartRA是一套可扩充、具备高度弹性及成本效益的解决方案,能帮助制造商解

分类:名企新闻 时间:2009/8/10 阅读:529 关键词:测试系统惠瑞捷

惠瑞捷技术

惠瑞捷首款具有每接脚8 Gbps高速存储卡V93000测试机

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)在韩国一家不具名客户的生产厂内安装并验证其首款可生产的V93000HSM6800系统。这套新系统是唯一的一款面向当今GDDR5超快存储集成电路(IC)(运行速度超过每接脚4Gbps)的快速高良率测试解决

新品速递 时间:2010/7/27 阅读:2479

惠瑞捷为成本敏感型集成电路推出测试系统V101

惠瑞捷半导体科技有限公司日前针对晶圆测试和时下对成本最为敏感的集成电路和微控制器的成品测试推出了一款新型测试系统V101。V101满足了这些芯片的超低成本要求,以及缓解了日益增长的上市时间压力。V101测试系统拥有多达1024个输入/输...

新品速递 时间:2009/7/13 阅读:1756

惠瑞捷推出面向消费电子芯片的混合信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高集成度的消费性电子产品组件,进行晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest)。半导体设计公司

新品速递 时间:2008/6/2 阅读:1879

惠瑞捷V93000测试系统推出Port Scale 射频测试解决方案

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。这套新的解决方案可提供经济、有效又可靠的射频量测能力,是测试新式的高集成度组件(内含射频、混合信号、

新品速递 时间:2007/12/20 阅读:1496

OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

惠瑞捷宣布,日本冲电气工业株式会社OKI已选用惠瑞捷PortScale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中,其中包括:机顶盒,手机,掌上电脑和其它无线产品等...

新品速递 时间:2007/11/30 阅读:1411

惠瑞捷增加并行机制以缩减存储器测试开发时间

惠瑞捷半导体科技宣布将可编程接口矩阵应用于VerigyV5000e工程工作站,以帮助存储器制造商在应用V5000e进行工程,测试开发和调试时获得并行测试能力。凭借该矩阵,V5000e可以并行测试12颗芯片(DUT),减少产线上的操作人员的时间,同时

新品速递 时间:2007/11/29 阅读:1292

针对V93000 SoC测试系统,惠瑞捷发布Port Scale射频测试方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)针对V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000SoC测试系统开发PortScale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、

新品速递 时间:2007/11/29 阅读:1274

惠瑞捷推出消费电子产品混合信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案,可针对各种高集成度的消费性电子产品组件,进行晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest)。可插入惠瑞捷V

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1480

惠瑞捷推出纳米电子数字信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(WaferSort)及终程测试(FinalTest),推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoele

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1433

惠瑞捷V93000系统推出Port Scale射频测试解决方...

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(VerigyLtd.)的V93000SoC测试机台推出PortScale射频(RF)测试解决方案。惠瑞捷针对V93000SoC测试系统开发PortScale射频测试解决方案是为了解决无晶圆厂半导体设计公司、整

新品速递 时间:2007/11/26 阅读:1316