英国Pickering公司推出新型灵活的PXI／PXIe微波开关系列，提供出色性能、优化测试系统
将于AUTOTESTCON 2023（8月28-31日）首次展出新款4x-890 系列为PXI产品家族带来可灵活配置的微波开关产品 用于电子测试和验证的模块化信号开关和仿真解决方案的全球供应...
分类：新品快报 时间：2023/8/30 阅读：357 关键词：PXIe微波开关系列
Pickering推出PXIe版本的频率范围从3GHz到67GHz的PXI射频微波开关模块
PickeringInterfaces公司作为生产用于电子测试及验证的信号开关与仿真解决方案的领导厂商，于今天宣布为全部现有的频率为3GHz及以上PXI射频和微波产品提供PXIe版本的产品。...
分类：新品快报 时间：2021/7/23 阅读：5605
Pickering推出PXIe版本的频率范围从3GHz到67GHz的PXI射频微波开关模块
PickeringInterfaces公司作为生产用于电子测试及验证的信号开关与仿真解决方案的领导厂商，于今天宣布为全部现有的频率为3GHz及以上PXI射频和微波产品提供PXIe版本的产品。...
分类：新品快报 时间：2021/7/22 阅读：2991
作为电子测试与仿真领域模块化信号开关和信号调理解决方案的，英国Pickering公司将在2016年6月14日至16日举行的微波及天线技术会(IME2016南京)上展示其完备的PXI和LXI总线射频与微波开关解决方案。摊位号：335。英国Pic
Microsemi推出具有高可靠性的新款微波开关驱动器系列产品
近日，Microsemi宣布推出专门为国防以及其它高可靠性应用而设计的一个PIN二极管微波开关驱动器系列，该产品具有小于10毫微秒的开关速度，达到了技术发展水平。Microsemi新的微波开关驱动器命名为MSD7800系列，是设计用于SPST和
作为电子测试与仿真领域模块化信号开关和信号调理解决方案的，英国Pickering公司将在2016年6月14日至16日举行的微波及天线技术会(IME2016 南京)上展示其完备的PXI和LXI总线...
新品速递 时间：2016/6/23 阅读：1116
作为电子测试与仿真领域模块化信号开关和信号调理解决方案的，英国Pickering公司将在2016年6月14日至16日举行的微波及天线技术会(IME2016 南京)上展示其完备的PXI和LXI总线...
新品速递 时间：2016/6/13 阅读：1341
开关速度是个涉及多个事件的复杂参数，每个事件都有自己的持续时间。借助已申请的pHEMT技术，M/A-COM Technology Solutions公司(下文简称为M/A-COM)已经找到了一种可缩短其中一个事件——开关的设置时间——的方法，从而给基于分组通信网...
基础电子 时间：2010/8/18 阅读：5483
绪论 无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RF IC 和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高...
基础电子 时间：2010/1/13 阅读：2897
Microsemi推出一个新的PIN二极管微波开关驱动器系列，该产品具有小于10毫微秒的开关速度，达到了最新技术发展水平，是专门为国防以及其它高可靠性应用而设计的。Microsemi新的微波开关驱动器命名为MSD7800系列，是设计用于SPST和S
新品速递 时间：2009/12/24 阅读：5265
无线通信产业的巨大成长意味着对于无线设备的元器件和组件的测试迎来了大爆发，包括对组成通信系统的各种RFIC和微波单片集成电路的测试。这些测试通常需要很高的频率，普遍...
基础电子 时间：2009/7/23 阅读：1992
村田推出最小的微波开关连接器，SWF尺寸为2.5x2.5x1.4mm。该器件的最小尺寸可以满足诸如从开发到量产的测试微波频率的应用，如蜂窝手机，PDA，GPS和测量设备等便携设备。器件的工作频率为DC到6GHz，插入损耗在DC到3GHz时为最大0.
新品速递 时间：2007/12/13 阅读：1709
村田推出最小的微波开关连接器，SWF尺寸为2.5 x 2.5 x 1.4 mm。该器件的最小尺寸可以满足诸如从开发到量产的测试微波频率的应用，如蜂窝手机，PDA，GPS和测量设备等便携设...
新品速递 时间：2007/11/13 阅读：1820
微波射频之开关参数说明备注：整理的资料均是产品选择时的基本参数，具体工作原理不作详细介绍，可参见相关参考书目。PIN二极管开关微波开关利用PIN管在直流正、反偏压下呈现近似导通和关断的阻抗特性，实现了控制微波信号通道转换的作用...
基础电子 时间：2007/10/25 阅读：3812
随着通信业的高速增长，组成这些不同通信系统的各种元器件的测试量也随之有了巨大增长。这些产品的测试要求和步骤均有较大的不同，所有的测试必须在非常高的频率（GHz以上）下进行。一套典型的测试系统主要包括DC基准电压、DC测量、RF功...
设计应用 时间：2007/4/16 阅读：1723
