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基于Multitest Mercury探针的晶片级测试座受好评

类别:新品快报  出处:SEMI  发布于:2010-09-30 | 987 次阅读

  Multitest 宣布全球最大的无晶圆半导体制造商之一对基于Mercury的晶片测试座进行了评估,结果发现该产品优于以往传统的POGO型弹簧针解决方案。Mercury测试座有八个试验位,每个试验位将近200个弹簧探针。客户为满足不断增加的产量,已经购买了三十多个测试座。

  晶片级测试座已被中国台湾和新加坡的多个测试代工厂采用。客户反映Mercury测试座使测试良品率比以往的方案提高了4-6%,显着节约了测试成本。此外,分包商对Mercury测试座的经久耐用、维护要求低以及低廉的替换探针价格感到满意。

  英国的另一家无晶圆厂制造商购买了数个32试验位Mercury晶片级测试座,并将其中一台发到中国台湾的一家测试分包商,在那里也取得了极大成功。

  Mercury的成功故事包括了数千个用于单粒器件、条带测试和晶片级测试的测试座。Mercury系列因其卓越的机械和电气性能而深受欢迎,其卓越性能则源自其独特的结构和制造流程。

  从性能量化方面来看,探针拥有大约20 GHz的带宽、超过2安培的载流容量、大约1 nH的电感以及50 – 80万次的使用寿命(数值与引脚间距有关)。

关键词:测试座 

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