您好,欢迎来到捷配电子市场网 登录 | 免费注册
您现在的位置:捷配电子市场网 > 元器件 > 仪器/仪表 > 检测仪器

XULM-XYM(FISCHER)膜厚仪

普通会员
产品分类
商品信息

XULM-XYM(FISCHER)膜厚仪 镀层厚度分析仪配创新的X射线光学系统,专门测量极小的面积.电动测量台,高能量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换,采用激光自动对焦,并配备有Z轴防冲撞传感器,可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品,从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等 符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
    二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
    三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
    双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
    双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
    XDAL/XDVM(FISCHER)膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们始终的目标

联系方式

企业名:深圳市锦霖测试仪器有限公司

类型:经销商

电话: 0755-13316557996

手机:13603036721

联系人:王生

地址:广东深圳宝安沙丼北环路90号

电子元器件产品索引: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9