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AMETEK XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器XR-100SDD

AMETEK XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器XR-100SDD
AMETEK XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器XR-100SDD
金牌会员 第 7
  • 企业名:上海闻企电子科技有限公司

    类型:经销商

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产品分类
商品信息 更新时间:2024-09-08

AMETEK XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器XR-100SDD



Amptek zui近在内部引入了硅晶片制造工艺并改进了此工艺。他们生产出的探测器具有更低的噪声、更低的泄漏电流、更好的电荷收集能力,并且探测器之间的一致性更好。

XR-100SDD 是一种热电冷却固态硅漂移探测器(SDD)和前置放大器。  推荐用于需要zui佳能量分辨率、极高计数率和zui低 X 射线能量的应用。  由于性能高、尺寸小和成本低,这使它成为许多实验室和 OEM X 射线光谱测量应用(包括 EDS 和 XRF)的理想探测器。

XR-100SDD 在 Mn Kα 线的分辨率为 125 eV FWHM(电子噪声 4.5 个电子 rms),峰背比为 20,000:1,输出计数率超过 500 kcps,并可检测到低至 Be Kα 线(110 eV)的 X 射线。  它的有效面积为 25 mm2,厚度为 500 μm。

标准 XR-100SDD 采用 0.5 密耳 Be 窗口,可在 2 keV 以上提供良好的效率。对于更低的能量,FAST SDD? 的可选zhuan利 C 系列窗口可提供低至 B 线的良好效率。   如需 >200 kcps 的计数率,建议使用 FAST SDD?。

在 XR-100SDD 中,探测器安装在延长管上(有多种不同的长度),前置放大器安装在连接的金属盒中。它需要单独的信号处理器和电源;推荐使用 Amptek PX5,它非常适合大多数实验室应用。同样的 SDD 探测器也被用在较小的 X-123SDD 封装设计中,或与较小的前置放大器一起用于 OEM 和定制系统。


特点

  • 125 eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV
  • 高峰背比 – 20,000:1
  • 25 mm2 – 准直至 17 mm2
  • 500 ?m 厚
  • 2 级热电制冷器
  • 冷却 ΔT >85 K
  • 温度监测
  • 薄铍 0.3 或 0.5 密耳
    FAST SDD 的zhuan利 C 系列窗口
  • 多层准直器
  • 密封封装(TO-8)
  • 检测范围宽
  • 易于操作
  • 硬辐射

应用

  • X 射线荧光
    • RoHS/WEEE
    • 贵金属
    • 合金分析
    • 轻元素
  • EDS
  • 教学和研究
  • 过程控制
  • M?ssbauer 光谱仪
  • PIXE
  • 波长色散 XRF


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企业名:上海闻企电子科技有限公司

类型:经销商

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手机:13764678882

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