HP4191A射频阻*分析仪

产品简介

　　主要用途 
　　测试材料的阻*Z，导纳Y，电感L，电阻R，介电损耗D，品质因数 
　　射频阻*计量器具检定系统 
　　VerificationSchemeofRF 
　　ImpedanceMeasuringInstruments　JJG2011-87 
　　代替：高频阻*量值传递系统 
　　射频阻*计量器具检定系统 
　　本检定系统适用于射（高）频集总参数阻*计量器具（即检测20kHz-1GHz频段的R，L，C元件和材料电磁特性*物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻*量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。 
　　一、计量基准器具 
　　1、高频集总参数阻*的*计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻*量值（包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。 
　　2、射（高）频集总参数阻*计量基准器具包括： 
　　2.1空气介质同轴线阻*基准，其阻*量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻*精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻**基准，本检定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻*量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为： 
　　反射系数模值｜г｜：1.000±0.002；相角：±180°±0.5°。 
　　2.2高频阻高频阻*精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻*分析仪，经过准确度论证分析，*高频集总参数阻*量的以下计量工作性能： 
　　频率：（1-1000）MHz 
　　反射系数模值｜г｜：1.000±（0.003-0.007） 
　　相角θ：±180°±0.5°； 
　　阻*模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）％ 
　　电容C：10pF-100nF±（0.2-10）％； 
　　电感L：10nH-100μH±（0.2-10）％ 
　　损耗：tgδ（D）0.001-0.5±＜（0.002-0.05） 
　　二、高频集总参数阻*标准 
　　3、集总参数阻*标准包括： 
　　3.1高频阻*标准件50Ω，0Ω，0S。它们由*基准通过直接比对法传递量值，技术特性如下： 
　　50Ω：｜г｜≤0.0025；0Ω：残余阻*小于2mΩ；0S：边缘电容值0.080pF。 
　　这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻*分析仪、高频LCR表等通用高频阻*测量仪器（校准中还需使用直流以和低频阻*标准伯）。并由50Ω阻*件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。 
　　3.2高频、低频阻*分析仪。这些是市售商品高准确度阻*测量仪器，也用作计量标准设备，用以定标低准确度的阻*标准量具。其技术指标为： 
　　频率：20kHz-1000MHz； 
　　阻*｜Z｜：1Ω-10kΩ±（1-20％）； 
　　电容C：10pF-100nF±（0.5-20）％； 
　　电感L：10nH-1.00μH±（0.5-20）％。