光纤插回损测试仪，光纤回波损耗测试仪，光纤回损仪，光纤测试仪，光纤跳线测试仪，光纤插损回损测试仪

Athena ADIR-161系列插损/回损一体化测试站

ADIR-161型光纤插回损测试仪是ATHENA开发研制出的带微处理器的精密光检测仪表，具有*佳的性能价格比。是用于光有源器件和光无源器件的回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的*理想的测量工具，是光纤通信系统研究、开发和生产，以及施工、维护等部门*备的基本测试仪器。

ADIR-161型光纤插回损测试仪可以进行宽动态范围及*的光回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等*的信号处理和软件处理技术，具有当前国际*水平。

 性能特点：

- 操作简单，测量回波损耗及*损耗过程中无需任何按键

- 测试速度快，回损、插损分别显示，测试结果一目了然, 减轻操作人员视觉疲劳

- 回损/插损测试波长同步自动设定, 减少操作步骤

- 可同时完成双波长测试

- 一机多用，经济实惠（可用作光插回损仪、台式光功率计、台式光源）

- 光源接头可拆卸方便捷清洁，并提供*的功率计接口配置

- 可将测试数据保存在电脑上，方便记录

 

操作简单： 在测量回损及插损过程中无需任何按键操作，回损/插损值分别在一台仪器上的两个液晶窗口显示，测试结果一目了然。仪器将*值及参考值等参数自动存储在其内部，即便是仪器断电后再开机，正常情况下不需重复校准。

 波长自动同步设定：在回损模式下，仪器将自动同步设定光源及功率计在同一测试波长；功率计模式时，可单独设定功率测试波长。

 多种工作模式：仪器可设定的工作模式有：

- 1310nm测试，用于测试1310nm的回损及插损。

- 1550nm测试，用于测试1550nm的回损及插损。

- 双波长1310/1550nm测试，用于同时测试1310/1550nm双波长的回损及插损（标准产品为双光源）。

- 光功率计模式，用作为高动态范围（-70dBm）、*光功率计。

- 该测试站也可用作为高稳定激光源，起到一机多用的作用。

 双波长测试：仪器内置的双波长测试模式将测试双波长1310/1550nm的回损及插损，双波长的回损/插损值将通过光源波长键切换显示在LCD上。

 

光学接口易于清洁：光功率计采用活动接口，可轻易卸下以便对光探测器进行清洁，或更换其它型号适配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用于测试各种型号跳线。回损测试部分的FC/APC接口采用*结构，可轻易卸下对内部光纤接口端面进行清洁。同时，*光学接口都具有*尘设计。

 

人体工学设计：仪器整机外观紧凑、美观、实用。面板采用按键开关设计，手感良好，外壳采用高质量铝塑机箱，*仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。LCD屏对比度高，并采用白色高亮LED作背光，显示清晰。仪器支架可随意调节，并配有提手，适应不同要求，*合人体工学。

 

测试精度高：仪器内部采用**的微电子技术以及高质量光学器件，配合精心编程的内置软件，使得仪器光源输出功率高且*其稳定，测量范围宽，测试速度快，具有*的测量准确性以及重复性。

  

型号	ADIR161A	ADIR161B	ADIR161C
光回波损耗测试
回损光源波长	1310/1550nm	1310nm	1550nm
回损测试校准波长	1310/1550nm	1310nm	1550nm
回损测试范围	14 ~ 70 dB
测试精度	0.25dB
光源输出稳定性	0.05dB/小时 ( @ 25℃)
接口类型	FC/APC
光*损耗测试
波长范围	0.85～1.7μm
检测器件	InGaAs
功率测量范围	－70 ~ ＋6 dBm (其他范围可选)
校准波长	850/1300/1310/1550nm
测试精度	0.25dB
测试模式	dBm/dB/WATT
显示分辨率	对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW
接口类型	活动接口， FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm适配器
整机参数
电源	AC90～260V
操作环境	工作温度0～ +45℃ 湿度≤85% RH
尺寸/重量	250*260*120（D*W*H）, 3Kg

产品组成：
主机; 电源线; FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm适配器;

说明书; FC/APC－FC/APC跳线一根; FC/APC－FC/PC跳线一根;

清洁棉签; 光盘; 另可选配U*线。

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光仪表：光纤寻障仪、手持式光万用表、光功率计、光源、光话机、
        插回损测试仪、可调数显光衰减器、光纤识别仪、OTDR

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