品牌:HP 型号:4191 测量范围:1M—1000M 测量频率:20k-1000G（Hz）
HP4191A射频阻*分析仪
频率范围：1M—1000M
主要用途
测试材料的阻*Z，导纳Y，电感L，电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻*计量器具检定系统
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring InstrumentsJJG 2011-87
代替：高频阻*量值传递系统
射频阻*计量器具检定系统
本检定系统适用于射（高）频集总参数阻*计量器具（即检测20kHz-1GHz频段的R，L，C元件和材料电磁特性*物仪器设备和量具、标准件），规定了射频（习惯上也称高频）集总参数阻*量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻*的*计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻*量值（包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率）的计量设备和量具。
2、射（高）频集总参数阻*计量基准器具包括：
2.1空气介质同轴线阻*基准，其阻*量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻*精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻**基准，本检定系统移用它，有利于射（高）频、微波阻*量值的统一。在（1-1000）MHz频段，其技术指标为：
反射系数模值｜г｜：1.000&plu*n;0.002； 相角：&plu*n;180°&plu*n;0.5°。
2.2高频阻高频阻*精密测量装置，它是利用从美国引进的HP4191A高频阻*分析仪，经过准确度论证分析，*高频集总参数阻*量的以下计量工作性能：
频率：（1-1000）MHz
反射系数模值｜г｜：1.000&plu*n;(0.003-0.007)
相角θ：&plu*n;180°&plu*n;0.5°；
阻*模值｜Z｜：1Ω-10kΩ&plu*n;（0.5-10）%
电容C：10pF-100nF&plu*n;(0.2-10)%;
电感L：10nH-100μH&plu*n;（0.2-10）%
损耗：tgδ（D）0.001-0.5&plu*n;<(0.002-0.05)
二、高频集总参数阻*标准
3、集总参数阻*标准包括：
3.1高频阻*标准件50Ω，0Ω，0S。它们由*基准通过直接比对法传递量值，技术特性如下：
50Ω：｜г｜≤0.0025； 0Ω：残余阻*小于2mΩ； 0S：边缘电容值0.080pF。
这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻*分析仪、高频LCR表等通用高频阻*测量仪器（校准中还需使用直流以和低频阻*标准伯）。并由50Ω阻*件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。
3.2高频、低频阻*分析仪。这些是市售商品高准确度阻*测量仪器，也用作计量标准设备，用以定标低准确度的阻*标准量具。其技术指标为：
频率：20kHz-1000MHz；
阻*｜Z｜：1Ω-10kΩ&plu*n;（1-20%）；
电容C：10pF-100nF&plu*n;(0.5-20)%；
电感L：10nH-1.00μH&plu*n;（0.5-20）%
3.3高Q测量装置是按谐振原理设计的阻*测量设备，用以定标Q值标准、电容损耗标准。其主要技术指标为：
频率：22kHz-70MHz；
Q值：10.0-1000&plu*n;（1-10）%；
电容损耗：tgδ10-2-10-5&plu*n;1×10-5
（电容损耗*指300kHz和1MHz频率下）
3.4高频介质精密量装置，是用于定标电介质材料复数介电常数的设备，技术指标为：
频率：100kHz-100MHz；
复介电常数实数部分：ε2-10&plu*n;0.5%；
介质损耗角正切：tgδ1×10-3-1×10-5&plu*n;1×10-5
3.5高频阻*标准量具组是适应不同阻*仪器的检定要求设计的，一系列模拟被测件典型参数的阻*件。*主要的有：
a、Q标准量具组：检定高频Q表用，频率：22kHz-70MHz，Q值：60-600，C值：（50-400）pF。
b、高频电感量具组：检定高频电感电容测量仪器，频率：（0.7-1.55）MHz，电感值：1μH-100mH。
c、高频电容量具组：检定高频电感电容测量仪器用，频率290kHz-1MHz，电容值（100-5000）pF。
d、高频标准电容组：频率：1kHz-10MHz，电容量：1pF，10 pF，100 pF，1000 pF，连接头：4端对。
e、高频电容损耗标准组：频率：300 kHz，1 MHz，损耗值：1×10-5-1×10-4。
f、电阻--模拟电感标准：频率：DC-13MHz，电阻值：0Ω-100kΩ，电感值100μH、100mH。
（e，f两项标准量具用于检定各类自动LCR表）
g、标准介质样品：石英、陶瓷、微晶玻璃、窗玻璃、聚乙烯等圆形样品，ε值：2-10&plu*n;1%，tgδ值：1×10-3-1×10-5。用于检定标准介质损耗测量仪。
三、高频集总参数阻*工作量具
4、高频集总参数阻*工具量具（或测量仪器）主要有三大类：应用电压电流比原理的矢量阻*表，它们大多是无需进行机内标准件调节的自动阻*测量仪器；应用指*法原理的阻*和导纳电桥及应用指*法原理的阻*和导纳电桥；应用谐振法原理的Q表和LC表。
4.1通过测量电压--电流矢量比值来直接读出阻*的模值｜Z｜和相角θ，再由机内微处理器换算出所需的各种阻*参量，这是大多数自动LCR表的工作原理，其检定方法是用少量的有功和无功标准阻*件考察典型工作状态下的阻*测量总不确定度。
4.2在桥式电路的某部分施加电压，然后调节内部标准件，直到接于桥路另一部分的指示器获得*平衡，利用被测阻*与机内标准阻*的确定关系，给出被测阻*读数，这类仪器通称指*法阻*仪器，其检定方法通常是利用标准阻*替代机内标准件的直接比较方法。
4.3对采用串、并联谐振技术设计的Q表、介质特性测量仪、电感电容测量仪、其检定方法除采用标准阻*件直接比较以处，沿涉及谐振回路残余参数的确定。
四、射（高）频阻*计量器具检定系统框图
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