项目

详细参数

测试点数

标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点

大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点

测试步骤

*大步骤: 12288步骤,可依需求扩充

测试时间

开路/短路测试:每1000点约1Sec(T*ical DUT)

元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(T*ical DUT)

测试范围

电阻:0.1Ω至40MΩ电晶体/二*体: 0.1V至9.99V

电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V

电感:1.0UH至60H

隔离点电路

隔离点自动选择,每测试步骤5点

测试值上下限设定范围

上限:+1%至999%下限:-1%至-99%

可测电路板尺寸

标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)

选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.

主控制电脑

Pentium4等级以上PC

*器

Super VGA低辐射CRT彩色*器或彩色液晶显示器

记忆设备

3.5" 1.44*,磁碟机一台,80GB以上硬式磁碟机一台

列印机

标准配备:40行双色列印机

*其它选购配备

WindowsXP作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）