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冲击试验设备

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    品牌:上海 型号:DWC系列该冲击试验箱为待测品静置制冷,热交替冲击方式,广泛使用于电子*部件测试,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在...

    电子元器件产品索引: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9

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