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参数测试仪

参数测试仪资讯

环形压敏电阻参数测试仪的研究

摘要:提出了一种新型的环形压敏电阻参数测试仪,详细介绍了它的整体结构,测量原理和硬件电路。试运行表明,该测试仪的检测精度较高,性能稳定,很好地解决了环形压敏电阻参数检测困难的技术问题。关键词:压敏电阻;测试;单片机...

分类:业界要闻 时间:2007/6/1 阅读:118 关键词:参数测试仪 压敏电阻 

智能电参数测试仪的设计

摘要:介绍了交流采样的基本原理,提出了Intel80C196KC为核心处理单元来实现对电力电网的多路参数的智能测量,并给出了整个系统的软硬件设计方案。设计中采用外设事物服务器PTS来响应A/D转换,大大减少了A/D转换时间,从而提高CPU的效率...

分类:业界要闻 时间:2007/5/30 阅读:172 关键词:电参数测试仪 

基于DSP的电气参数测试仪研究

摘要:分析基于DSP的电气参数测试仪测量原理,非理想同步采样的误差。介绍了测试仪的结构和软件流程。关键词:测量;同步采样;电气参数;数据采集;数字信号处理器StudyofElectricalParameterMeterBasedonDSPCHENZ

分类:业界要闻 时间:2007/5/28 阅读:144 关键词:参数测试仪 DSP 

集成运放参数测试仪[2005年电子大赛一等奖]

摘要:本系统参照片上系统的设计架构、采用FPGA与SPCE061A相结合的方法,以SPCE061A单片机为进程控制和任务调度核心;FPGA做为外围扩展,内部自建系统总线,地址译码采用全译码方式。FPGA内部建有DDS控制器,单片机通过系统总线向规定

分类:业界要闻 时间:2006/9/29 阅读:197 关键词:参数测试仪 

供应电涌保护器直流参数测试仪

一:产品概述:本仪器主要用于测量限压型伏安特性器件(压敏电阻器,氧化锌避雷器,稳压管等)的压敏电压(UN)(或称直流参考电压、限制电压),和漏电流(IL)等二个参数,仪器的设计符合技术标准GB11032-2000/IEC60099.4-1991和《

分类:新品快报 时间:2006/7/11 阅读:1200 关键词:直流参数测试仪 电涌保护器 

Crolles2联盟选择安捷伦93000和4073参数测试仪

(电子市场网讯)安捷伦科技日前宣布,Crolles2联盟已经购买三部安捷伦93000PinScale测试仪和四部4073高级参数测试仪,用于CMOS工艺技术的研发和工业化。这一联盟包括STMicroelectronics、飞利浦和Freescale

分类:业界要闻 时间:2006/3/2 阅读:502 关键词:参数测试仪 安捷伦 

参数测试仪技术

基于STM32的智能参数测试仪的设计方案

摘要:本文针对目前市场上存在的一些电磁继电器参数检测仪器的缺点,为了能够精确采集电磁继电器的吸合电压等主要参数,采用ARM技术和上、下位机方法,设计了一款基于ARMCo...

技术方案 时间:2014/3/12 阅读:2878

集成运算放大器参数测试仪校准技术研究

设计背景集成运算放大器(以下简称集成运放)以小尺寸、轻重量、低功耗、高可靠性等优点广泛应用于众多军用和民用电子系统,是构成智能武器装备电子系统关键器件之一。近年...

基础电子 时间:2011/8/29 阅读:16628

AT89S52单片机的太阳能环境参数测试仪

摘要:介绍了一种基于AT89S52单片机的太阳能环境参数测试仪,详细阐明了环境参数测试仪的软硬件设计与实现方法。该测试仪能对温度、湿度和照度进行实时测量显示,并通过RS4...

基础电子 时间:2010/8/6 阅读:1811

关于集成运算放大器参数测试仪校准装置研究

集成运算放大器(以下简称集成运放)以小尺寸、轻重量、低功耗、高可靠性等优点广泛应用于众多军用和民用电子系统,是构成智能武器装备电子系统的关键器件之一。近年来,随着微电子技术的飞速发展,集成运放无论在技术性能上还是在可靠性...

基础电子 时间:2010/7/2 阅读:1956

便携式语音环境参数测试仪设计

1引言人们健康意识和环保意识的逐渐增强使环境参数及其对身体的影响日益受到关注。然而现实生活中人们常常身处煤气、香烟、酒精等有害气体的包围之中,但因没有合适的测量仪器或因专业的测量仪器过于昂贵而不能方便地得知身边环境中的各...

设计应用 时间:2009/9/25 阅读:2197

电参数测试仪技术参数

·电压、电流、功率、功率因数、频率真有效测量·电流、功率具有上、下限报警功能·采用四窗口LED数字同时显示;电压500/150V、电流20/4/0.8A、功率、功率因数或频率·测量数据锁定功能·电流量程自动切换,线性范围宽,读数重复性好,性...

基础电子 时间:2009/6/1 阅读:1572

安捷伦科技推出Agilent 4075和4076 DC RF脉冲参数测试仪

安捷伦科技宣布推出Agilent4075和4076DC/RF/脉冲参数测试仪,用来鉴定使用高级工艺技术(如65nm技术节点)制造的器件。通过Agilent4075和4076,半导体测试工程师可以同时测量RF特点和DC特点,以满足当前体积日益缩小的多

新品速递 时间:2007/12/17 阅读:1460

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