HALT/HASS试验
安科瑞
安科瑞 华梅超 一:高加速寿命试验/Hightly accelerated life test 高加速寿命试验(HALT)是在被试件产品上步进施加应力(包含振动、高低温、湿度、温度循环、电应力开关循环、电压及频率等),使产品设计缺陷、潜在弱点暴露在样机试制阶段,改变了传统的依靠用户使用来发现问题的模式、大大缩短了产品成熟周期、提高产品可靠性。 1.1方法标准: ●GB/T 29309《电工电子产品加速应力试验规程 高加速寿命试验导则》 1.2 试验优点: a)消除设计缺陷,大大提高设计可靠性,确保能获得早期高可靠性,使设备具有较高的外场可靠性; b)大大减少鉴定试验时的故障,经过HALT试验的产品,性能已基本稳定; c)降低寿命周期费用; d)能确切了解工作和损坏,为制定HASS试验方案,确定了应力量级提供依据。 试验能力范围: 温度范围:-100℃至200℃ 温变速率:60℃/min 振动量级:80Grms(空载) 频率范围:20-6000Hz (10000Hz) 1.3 应用领域: 信息技术产品、汽车电子产品、电动玩具产品、电工电子产品整机及其电子部件、印制电路板组件等。 二:高加速应力筛选试验/Hightly accelerated stress screening 高加速应力筛选试验系统(HASS)是产品通过HALT试验得出操作或破坏值后
TEXAS INSTRUMENTS TPS65930A2ZCH 芯片, 电源管理器/音频编解码器, NFBGA-139
LATTICE SEMICONDUCTOR ISPPAC-POWR607-01SN32I 芯片, 电源管理器, ISP, 32QFNS
TEXAS INSTRUMENTS TPS65950A2ZXNR 芯片, 电源管理器/音频编解码器, NFBGA-209
TEXAS INSTRUMENTS TPS659113A2ZRC 芯片, 电源管理器, 12路输出, BGA-240
NXP MC13892CJVL 芯片, 电源管理器, 用于 I.MX35/51, 186MAPBGA
TEXAS INSTRUMENTS TPS75003RHLR 芯片, 三电源管理器
MAXIM INTEGRATED PRODUCTS MAX8660ETL+T 芯片, 电源管理
TEXAS INSTRUMENTS TPS51220RHBR SYNC BUCK REG W/ LDO, 2 O/P, VQFN-32
FAIRCHILD SEMICONDUCTOR FAN3989MLP8X 芯片, USB/充电检测器, MLP-8
VISHAY SIC403ACD-T1-GE3 芯片, 降压稳压器, 3V-28V, 6A, 0.6V-5.5V, MLP5X5
STMICROELECTRONICS STBCFG01JR 芯片, 电池充电器, 带电量计和LDO, 5.95V, FLIPCHIP-25
STMICROELECTRONICS STBB3JCCR 芯片, 直流/直流转换器, 带WLED驱动器, 2A, FLIPCHIP-20
POWER INTEGRATIONS TNY268PN 芯片, 离线开关
供应原装陶振 CSTLS8M00G53-B0 村田
MURATA PLA10AN3630R3D2B 扼流圈,共模 2X36MH 0.3A
ROXBURGH SMV60 扼流圈,差分模式 0.12MH 6A
EPCOS B82721K2122N20 扼流圈, 共模 2X6.8MH 1.2A
KEMET SS17VA-R10025 电感, 共模, 2500uH, 通孔安装
KEMET SC-01-10GS 电感, 共模, 1000uH, 通孔安装
SCHAFFNER RN212-0.6-02 扼流圈,共模抑制/非对称模式 2X15MH 0.6A