3400
英国ABI
特点: 三维立体V-I-F曲线测试仪 变频扫描V-I-F曲线测试仪 级V-I-F曲线测试仪 静态诊断电路板, 不*外加电源即可进行测试。 检测电路板上受损器件。 可检测出具有泄漏型故障的器件。 可检测出不相同的器件。 将损坏风险降至。 具多通道测试(64通道), 可减少测试时间。 ABI-3400电路板故障检测仪 可在静态条件下分析器件及整板测试采用*的测试方法, 测量电气信号曲线, 侦测错误/瑕疵问题, 包含内部损坏器件与不一致器件- 增加问题检测范围, 同时, 减少测试时间! 何谓V/I曲线测试? 对于模拟及数字电路板, V/I曲线测试是成熟、*的解决方案。 透过一个限流电阻器, 施加AC电压到一个测试点时, 测量因此产生之电流, 并将结果绘制成一个电压/电流图形, 即显示该测试点的特性曲线。 分析V/I曲线,通常是与一参考点作比较,而检测如下问题: 漏电流器件。 内部受损器件。 错误数值的器件。 不一致的器件。 短路与开路。 变频扫描方式---增加问题查找范围! ABI-3400模块, 通过改变V/I信号的AC电压的频率, 而增加问题检测范围, 其产生的曲线, 绘制在一个3D窗口内, 能让使用者观察到整个频率范围上的V/I曲线变化, 进而找到标准V/I分析方法看不见的问题。 矩阵式扫描V/I-----
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