纳米位移计 纳米级位移计

　　传感器测量系统基于光谱共焦原理,由光学头和控制器组成，之间通过一根光缆连接。

　　该款传感器进行了小型化的封装，便于集成到现有的系统中。

　　纳米位移计 纳米级位移计主要特点

　　◆纳米级分辨率；与光强度无关,与被测体反射系数无关；

　　◆坚固的结构，使用寿命长；

　　◆易操作且动态测量可以达到很高的测量频率，完美匹配自动化的需求。操作人员不需要经过的培训也能得到可靠的测量结果；

　　◆NLS12传感器，具有简化的独立系统，可以在工业或交通不便的环境中进行测量；

　　◆与三角反射法不同,几乎无反射角要求,且无反射平面阻挡之影响,因此可用于小孔深度测量；

　　◆可以计算面积，厚度或体积；

　　◆可进行平整度的测量，高度或位置的测量；

　　纳米位移计 纳米级位移计应用领域

　　应用于表面难以测量的物体（技术性及困难表面），是一种非接触式轮廓测量的通用的测量解决方案。理想情况下，传感器适合于敏感的，软的或液体的表面。适用于微机械工程，电气工程，光学行业，塑料和造纸行业，半导体和PCB产业的检测，工具行业等。

　　真尚有科技依托集团优势，致力于引进国外测量技术；是基于进口高端传感器，以软测量技术、RFID技术、无线传感器网络技术及相关中间件软件平台为发展方向，集研究、开发、销售、培训、系统集成、技术支持、售后服务为一体的高科技产业公司。真尚有科技所处的自动化测试测量领域前景十分广阔，直接服务于国内高端制造业。国内制造业的整体升级，需要大量高精度、高度自动化、高可靠性的测试测量设备、传感器，给我们带来了庞大的市场，和众多的发展机遇。真尚有科技在精密制造业、铁路测量、公路测量、设备监控、高校教学、研究等领域有着大量优质客户，市场广阔，潜力巨大。

　　真尚有科技还是深圳市政府认定的软件企业，拥有自主知识产权，公司将自己的核心软件技术服务于测量领域，成功应用国外各种高端测量设备及传感器，为客户解决多种实际的测量难题。我们自主研发的基于通用硬件平台的软测量体系之测厚系统ZTMS08已通过计量机构的权威，精度达1um，广泛应用于各种工业在线测厚领域。

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