非接触位移传感器
STIL Initial:技术参数表
控制器
|
STIL Initial系列
|
型号
|
STIL Initial 0.4
|
STIL Initial E1.2
|
STIL Initial E1.2/90(1)
|
STIL Initial 4.0
|
STIL Initial 12
|
光学笔
|
|
型号
|
CL2-MG140
|
ENDO 1.2
|
ENDO 1.2/90(1)
|
CL4-MG35
|
CL5-MG35
|
测量范围
|
0.4mm
|
1.2mm
|
1.2mm
|
4.0mm
|
12.0mm
|
工作距离
|
11.0mm
|
2.4mm
|
0.4mm
|
16.4mm
|
29mm
|
光斑大小
|
3.4μm
|
15μm
|
13μm
|
7.2μm
|
16.5μm
|
倾斜角度(2)(3)
|
±28°
|
±14°
|
±9°
|
±21°
|
±14°
|
重量
|
190g
|
10g
|
10g
|
155g
|
175g
|
规格尺寸:Φ×L
|
Φ27㎜×208.9㎜
|
Φ6㎜×75.2㎜
|
Φ6㎜×82㎜
|
Φ27㎜×145.5㎜
|
Φ27㎜×145.5㎜
|
位移测量
|
|
轴向分辨率(4)
|
|
|
|
|
|
无平均值
|
22nm
|
100nm
|
160nm
|
130nm
|
400nm
|
有平均值(10)
|
8nm
|
35nm
|
60nm
|
50nm
|
180nm
|
精度(5)
|
80nm
|
300nm
|
800nm
|
300nm
|
900nm
|
测量粗糙的金属样品(9)
|
R
|
NR
|
NR
|
NR
|
NR
|
粗糙度测量(10)
可测量值
|
30nm
|
NR
|
NR
|
NR
|
NR
|
厚度测量(6)
|
|
可测量厚度(7)(8)
|
16μm
|
75μm
|
NA
|
110μm
|
450μm
|
可测量厚度(7)(8)
|
510μm
|
1600μm
|
NA
|
5700μm
|
16500μm
|
控制器
|
|
测量模式
|
<位移> 和 <厚度>
|
测量速率
|
100Hz-2000Hz
|
数字量输出
|
USB2.0和RS232(到460800波特率)
|
数字量的分辨率
|
<位移>模式:30bits
|
<厚度>模式:15bits
|
同步性
|
0V-5V输入输出TTL同步信号,带触发功能
|
优点
|
<双频率>模式
|
<LED自动调节>模式
|
<高峰>模式
|
<保持上个数值>模式
|
<厚度校准>
|
电源/功率
|
100V-240VAC 50-60Hz/25W
|
重量
|
1920g
|
尺寸 W×H×D
|
199mm×123.5mm×277mm
|
光纤电缆
|
|
(1)径向(90°)测量光学笔。
(2)倾斜角度只适用于镜子似的(像镜子)表面。对于漫反射表面,倾斜角比较高(漫反射角度达87°)。
(3)以100Hz的频率在镜面上测量,不进行平均计算。
(4)轴向分辨率的定义是指以采样速度在中心量程测量静态样品得到的RMS噪声值,不进行平均计算。
(5)精度是指在测量的整个范围内,进行以下几种情况的位移校准时测得的误差值:“LED自动调节”模式,采样速度,倾斜角=0°,平均系数=测量速率/10。
(6)在这种模式下为得到测试性能,建议在一个标准厚度进行校准。
(7)这些值是用于折射率为1.5的情况(测量空气间隙厚度要除以1.5)。
(8)典型值,是指使用中间量程以采样速度测量的值。
(9)R=推荐用于测量粗糙金属样品(这些样品各项性能都能被测量)。
NR=不推荐用于测量粗糙金属样品(这些样品可以测量,但是性能不是很好)。
(10)可测量的精度值取决于样品的规格参数。上表所例的数值是典型值。
注意:数据如有改动,恕不另行通知。