日本凯特KEET膜厚计LH-373型 号 LZ-373

     LE-373 LH-373
     测定方法 电磁式 高频涡流式 
     测定对象 磁性金属上非磁性涂度层 非磁性金属上绝缘层 
     测量范围 0～2500um/0~100mils 0～1200um/0~48mils
     测量精度 <50um±1um >50<1000um±2% >1000um±3%
     测试面积 ≥5x5mm 
     分辨率 ≤100um 0.1um > 100um 1um 
     数据统计 测试次数/值/值/平均值/标准偏差，可存储数据达39000个
     附加功能 1、单位选择（公英制）；2、程序选择；3、数据删除；4、四种语言选择；5、日期时间；6、手自动开关机；
     7、背景灯光选择和时间设定；8、打印功能；9、通道选择；10、数据输出；11、可设定上/下限数值
     信号输出 电脑输出（USB或者RS-232C）或者连接打印机（RS-232C） 
     附属品 探头/基体/校正标准片/电池/V型块//皮套/合格证/说明书 
     选配件 L型探头、标准片、打印机、管理软件、测试支架
     体积/重量/电源 75(W) x145(D) x 31(H) 0.34kg 5#电池 x4个 

企业名：深圳市科圳威电子有限公司

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