型号

LJ-G200

设置

漫反射型

参考距离

200 mm

测量范围

Z 轴 (高度)

±48 mm

X 轴 (宽度)

近

51 mm

参考距离

62 mm

远

73 mm

光源

类型

红色半导体激光

波长

655nm (可见光), 2类激光产品 (JIS C6802)

输出

0.95 mW

激光分类

2 类激光产品 (IEC 60825-1), II 类激光产品 (FDA (CDRH) Part 1040.10)

光斑形状 (在参考距离处)

约 180 μm x 70 mm

再现性

Z 轴 (高度)

2 μm*1

X 轴 (宽度)

20 μm*2

线性 Z 轴 (高度)

±0.1% F.S.*3

采样周期(触发间隔)

3.8 ms*4

温度特征

0.02% F.S./°C

环境耐性

防护等级

IP67 (IEC60529)

环境照明

白炽灯或荧光灯： 5000 lux*5

环境温度

0 至 50°C

相对湿度

35% 至 85%RH (无结露)

抗振性

10 至 55 Hz; 双振幅 1.5 mm; X、Y、Z 方向各 2 小时

材料

铝

重量

约 480 g

*1 值在 64 次之后获得，平均在参考距离。目标是 KEYENCE 标准物体。值是“高度”模式中各个宽度的平均值。
*2 值在 64 次之后获得，平均在参考距离。目标是 ø10 mm 销规。值是“位置”模式中经过 16 次“平滑”处理之后的边界值。
*3 目标是 KEYENCE 标准物体。值是“高度”模式中各个宽度的平均值。
*4 条件为初始设置、测量范围，并且是单次平滑处理
*5 瞄准受照白纸时感测头的接收器上的照度。

LJ-G200可测量平均高度、高度及高度。透过计算特定点的高度可测出变形或膨胀度。

根据表面轮廓测量宽度及间隙。在进行高精度测量的同时不受目标物颜色的影响。

可在特定的范围内实时测量截面面积。这样便可以对轮廓和截面进行质量控制。

可根据表面轮廓实时测量／判定角度、交点及边缘位置