镀层厚度测量仪产品信息：

　　镀层厚度测量仪是一种能分析物质所含元素的一种仪器，能利用先进的技术精密地分析物质，已广为使用。可检测普碳钢、低合金钢、高合金钢、生铸铁、球铁、合金铸铁等多种材料中的Si、Mn、P、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti等多种元素。每个元素可储存99条工作曲线，品牌电脑微机控制，全中文菜单式操作。可以满足冶金、机械、化工等行业在炉前、成品、来料化验等方面对材料多元素分析的需要。

　　镀层厚度测量仪技术指标：

　　元素分析范围从钠（Na）到铀（U）

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：60-300秒

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA,寿命大于3万小时

　　温度适应范围为15℃至30℃

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高斯平滑滤波校正

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 190x190x44 mm

　　仪器尺寸 500x380x355 mm

　　镀层厚度测量仪原理：

　　根据现代光谱仪器的工作原理，光谱仪可以分为两大类：经典光谱仪和新型光谱仪。经典光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器；新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光。

　　根据色散组件的分光原理，光谱仪器可分为：棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。光学多道分析仪OMA （Optical Multi-channel Analyzer）是近十几年出现的采用光子探测器（CCD）和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理， 存储诸功能于一体。由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率；使用OMA分析光谱，测量准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。

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