荧光光谱仪器iEDX-150T技术指标：

　　多镀层，1~6层

　　测试精度：0.01 um

　　多次测量重复性误差<0.1%

　　元素分析范围从铝（Al）到铀（U）

　　测量时间：10-60秒

　　Si-PIN探测器，能量分辨率为149电子伏特

　　微焦X射线管50KV/1mA,钨靶，焦斑尺寸 75um, 寿命大于3万小时

　　7个准直器及6个滤光片自动切换

　　XYZ三维移动平台，荷载为5公斤

　　高清CCD摄像头，监控位置

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　平台移动范围 300（X）x300（Y）x25 （Z）mm

　　荧光光谱仪器以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上（或扫描某一波段）进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。

　　荧光光谱仪器图谱界面：

　　软件支持无标样分析

　　超大分析平台和样品腔

　　集成了镀层界面和合金成分分析界面

　　采用先进的多种光谱拟合分析处理技术

　　分析精度可达到0.01um

　　电脑红外联测多元素分析仪、电脑多元素一体化分析仪器是国内的一款多元素联测分析仪，其对性能、质量及精度的要求完全达到了国际化标准，而投资的总价既实在又超值！金属材料元素分析系统是国内一款新型的综合性分析仪，一台仪器可满足碳钢、合金钢、不锈钢、灰铁、球铁、耐热钢、玛钢、耐磨钢与铸铁等材料中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti、V、Al、W、Nb、Mg、稀土总量、Co等元素含量的检测，建立了功能强大的数据库，用于分析结果数据及工作曲线的储存和查询，其数据的修改和曲线的增删方便。采用品牌电脑微机控制，并配备了电子天平，全中文菜单式操作，台式打印机打印结果。

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