西藏镀层分析仪EDX-900技术指标：

　　多镀层，1～6层

　　测试精度：0.01 um

　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

　　元素含量分析范围为1PPm到99.99%

　　测量时间：10-60秒

　　多次测量重复性误差<0.1％

　　SDD探测器，能量分辨率为130±5电子伏特

　　X射线管50KV/1mA，寿命大于3万小时

　　高清CCD摄像头，监控位置

　　准直器尺寸0.1～1.0mm

　　多变量非线性去卷积曲线拟合

　　高性能FP/MLSQ分析

　　样品室尺寸 320x330x80 mm

　　仪器尺寸 500x380x355 mm

　　西藏镀层分析仪EDX-900特点：

　　1. 镀层分析快速、无损，对样品无需进行任何处理。一般测试一个点只需10S-60 S,分析精度高。X荧光分析仪属于光物理测量，对测试样品不会产生任何物理、化学变化，属于无损检测。测试样品无需进行任何处理，分析速度更快。

　　2. 可测试超薄镀层，如：测试镀金产品时，可测试0.01μm的镀层，这是其它测厚产品无法达到的。X荧光通过射线方式来检测镀层厚度，因此对样品表面物质测试为敏感，因此，非常适合测试超薄层。

　　3.可测试多镀层，测试精度远高于其它方式。X射线具有一定的穿透能力，因此在测试镀层时，可以穿透多个镀层，根据每层镀层产生的特征X射线计算其厚度，并可分析镀层结构。

　　4.  可以对样品进行连续多点测试，分析镀层厚度分布状况，并可对样品复杂面进行分析。

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