需求：测半透明薄膜的厚度，厚度范围：1-3mm，精度5um。

可选测量方案：光幕测厚方案。

采用真尚有光幕千分尺ZM100，由于此种方法采样区域是外边缘，故ZM100可测表面粗糙、发泡、镂空的物体的厚度。

具体方案：将薄膜套在标准轴上，通过测标准轴和套薄膜的标准轴的直径，间接检测薄膜的厚度。

如图所示：

光幕千分尺ZM100应用领域：

    可用于物体尺寸的非接触测量与控制，如零件高度、边缘、直径、线径、宽度、间隙、内径、外径等。有效降低了生产后的单件检验成本，并能有效节省原物料的损耗，降低人员需求。

    可进行发泡膜、铁丝网、半透明薄膜等物体的厚度测量。

光幕千分尺ZM100主要特点：

高精度：线性度高达±5um；

量程范围广：可测500mm外径的物体（可根据实际情况定制更大外径型号）；

支持多个传感器同步采集（确保工业在线高精度差动测厚）；

可以对操作系统实施不同的参数设置，改变测量方式；

在PC上十分直观的显示出测量值，方便对测量过程实施监控；

采用半导体激光器发射的激光（波长660nm）作为探测信号，抗干扰能力强；

系统带有额外的四条输出信号，带负载能力强。

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