*LED检测系统

MEGA LED T*TER *LED检测系统
 MEGA LED T*TER测试仪已*重新设计，为*合测量*及LED生产*测试需求，整合了*科技研发的MegaLED-SGM CCD摄谱仪及*的MegaLED-3000系列LED电性分析仪, MEGA LED T*TER可用来测试*LED相关之光学与电性参数。
    在生产过程中快速测量LED参数对于仪器是项*的挑战，因为*合CIE的测量标准时，出光效率*低；在这同时，*生产设备可以*益生产的运转，*的测量时间是*要的，多项的LED的光学与电性参数测试均涵盖其中，不同封装的LED适用范围也*须由小的SMT设计以至于高功率的LED。

◆Spectral radiant flux ( W/nm ):*对光谱 ◆Peak wavelength (λp) : *高波长 ◆Dominant wavelength (Hue；λd )： 色域波长 ◆Center wavelength (λc): 中心波长 ◆Excitation Purity (Chroma；%): 色纯度 ◆Chromaticity Coordinates (x,y @1931)：色坐标 ◆C.C.T. (correlated color temperature)  : 色温 ◆C.R.I. (color rendering index ) : 演色指数        MegaLED-SGM100*了主要的测量参数*高*度及再现性，如LED主波长及的色坐标等，在传统*的电性测量速度下，对MegaLED-SGM100测量速度要求加快许多。如图所示，其清楚的描述客户确实可以减少电子测量的时间，尤其是搭配LED分选机*的测试需求。         新的可调式使用者接口组态与扩充的数组功能合并，以*合*分BIN的要求。新的装置特征系依据统计分析及整体性考虑，也是针对白光晶圆与Lamp LED分选设备，都搭配了*探测模块。

无光纤设计 *失直接光讯号传输方式

 l 完整的测量配置（光强，光通量，色彩值，辐射模式的测量）
 快速测量周期l <30mS
 *兼容 CIE127-2007 测量标准l ，NIST 标准溯源
 经济*的CCD分光技术l 以及智能化色彩分析软件
 可以连接系统各选项的光强与光通量探头l
 优化的质量*l
 MegaLED软件，DLLs的驱动。l

 光强n [cd]
 光通量[LM]n
 主波长，中心波长，波峰测量n
 色坐标，色温，演色指数n
 空间辐射模式n

        SGM100光学检测系统是采用*的CCD与光栅分光技术来测量LED的发光特性与参数。各种光学适配器都可以根据测量需要，可以搭配到SGM100的输入端，定义成相应的光强或光通量等光学单位。

       除了具吸引力的价格外，还有*的仪器测量*度。SGM100是按照精密仪器标准制造的，SGM100光栅摄谱仪及其配件在出厂前都按照NIST标准校正过，U*接口随插即用。

MEGALED-SGM100  LED光学检测系统升级与服务
        该产品的主要功能就是对LED光学特性及参数进行测量。*科技凭借多年服务业界的经验以及强大的技术力量,对您未来成长的需求提供配套的升级服务。

实用简单MegaLED 光谱色度分析软件：
      软件可以支持您使用基本的LED测量，函数分析，和相应档处理；并支持各类多功能电表支持你所需要的LED电性分析,稍微懂得计算机的产线作业人员就能操作，*你的生产质量。

MEGA LED T*TER测试仪已*重新设计，为*合测量*及LED生产*测试需求，整合了*科技研发的MegaLED-SGM CCD摄谱仪及*的MegaLED-3000系列LED电性分析仪, MEGA LED T*TER可用来测试*LED相关之光学与电性参数。

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