供应DDR2单面内存条测试治具 产品特点及性能参数: ◆产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试*内存IC（宽度≤12MM）； ◆有球无球均可测试（*更换上盖的IC压板）； ◆采用手动翻盖式结构，操作方便； ◆上盖的IC压板采用摆动式结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位； ◆探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触*，而不会损坏锡球； ◆*的定位槽，*IC定位*，测试效率高； ◆测试准确性高，大大减少误判率； ◆采用*双头针，探针可更换，维修方便，成本低； ◆*缘材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框铝合金材料制作； ◆测试频率可达1066M Hz； ◆测试寿命长，*测试10万次以上； ◆内存条测试治具测试规格：DDR2X8 性可测试8颗内存颗粒； ◆可以*单颗内存IC与服务器主控IC的测试治具 ◆可以*提供相关的技术支持。 产品服务： ※半年*保修（人为损坏除外）。 ※保修期外，*维修，如果需换件，只收材料成本费。 ※可以*提供相关的技术支持。

企业名：深圳凯智通微电子技术有限公司网络

类型：生产企业

电话： 755-27340793

手机：13714198374

联系人：陈英姿

QQ：

邮箱：lucky111120@163.com

地址：广东深圳深圳宝安宝安福永稔田南路14号