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高频光电导少子寿命测试仪 GDW3-LT1C

高频光电导少子寿命测试仪 GDW3-LT1C
高频光电导少子寿命测试仪 GDW3-LT1C
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产品分类
商品信息 更新时间:2011-06-20

品牌:中慧 型号:GDW3-LT1C

高频光电导少子寿命测试仪/高频光电寿命测试仪 LT-1C τ:5~6000μs ρ>0.1Ω•cm 型号:GDW3-LT1C货号:ZH410

太阳能级硅片寿命配已知寿命样片、配示波器

产品简介
1、用途
用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内*属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
2、 设备组成
2.1、光脉冲发生装置
重复频率>25次/s 脉宽>60μs 光脉冲关断时间<1μs
红外光源波长:1.06~1.09μm(测量硅单晶) 脉冲电流:5A~20A
如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源
频率:30MHz 低输出阻* 输出功率>1W
2.3、放大器和检波器
频率响应:2Hz~2MHz
2.4、配用示波器
配用示波器:频带宽度不低于10MHz,Y轴增益及扫描速度均应连续可调。
3、测量范围
可测硅单晶的电阻率范围:ρ≥0.1Ω·㎝(欧姆·厘米)
寿命值的测量范围:5~6000μs(微秒)

联系方式

企业名:北京中慧天诚科技有限公司

类型:经销商

电话: 010-59449157

联系人:王伟

地址:北京北京市北京市

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