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X-4熔点仪

供应X-4熔点仪
供应X-4熔点仪
普通会员
商品信息 更新时间:2011-08-24

品牌:精科 型号:X-4 类型:显微熔点仪 熔点测量范围:室温至320℃(℃) 功率:0(W) 尺寸:0(mm) 测量重复性:0 电源:0(V\HZ)

应用范围
测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
产品简介

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:&plu*n;1℃(在<200℃时)
&plu*n;2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X

应用范围
测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
产品简介

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:&plu*n;1℃(在<200℃时)
&plu*n;2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X

应用范围
测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
产品简介

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:&plu*n;1℃(在<200℃时)
&plu*n;2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X

应用范围
测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
产品简介

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:&plu*n;1℃(在<200℃时)
&plu*n;2℃(在200~300℃时)

光学放大倍数:目镜10X;物境4X

联系方式

企业名:青岛胜方分析仪器有限公司

类型:生产加工

电话: 0532-86062771

联系人:穆法水

地址:山东青岛青岛市四方区四流南路17-21号

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