品牌:SGW X-4A 型号:SGW X-4A，SGW X-* 类型:显微熔点仪
应用范围：应用范围：测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
*小读数：0.1℃
测量重复性：&plu*n;1℃（在<200℃时）
&plu*n;2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
应用范围：测定物质的熔点。用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
性能指标
熔点测量范围：室温至320℃
*小读数：0.1℃
测量重复性：&plu*n;1℃（在<200℃时）
&plu*n;2℃（在200～300℃时）
配双目体视显微镜
光学放大倍数：40X-100X连续可调
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