品牌:各式品牌 型号:各种型号 规格:各种规格 产品用途:用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量

少子寿命测试仪产品参数

少子寿命测试仪；
测量范围；可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝（欧姆·厘米）,寿命值的测量范围：5～6000μｓ；设备组成；
1、光脉冲发生装置重复频率＞25次/s脉宽＞60μｓ光脉冲关断时间＜0.2-1μｓ；红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）脉冲电流：5A～20A；如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源；
2、高频源；频率：30MHz低输出阻*输出功率＞1W；
3、放大器和检波器；频率响应：2Hz～2MHz；
4、配用示波器；配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。；套装：包括示波器+主机;

少子寿命测试仪产品介绍

1.用途（高频光电导）

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内*属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

2.1光脉冲发生装置

重复频率＞25次/s脉宽＞60μｓ光脉冲关断时间＜1μｓ

红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）脉冲电流：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源

2.2、高频源

频率：30MHz低输出阻*输出功率＞1W

2.3、放大器和检波器

频率响应：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。

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