类型:薄膜测厚仪 品牌:PC-LEPTOSKOP 型号:2050 测量范围:1200 μ m（mm）
| 应用实例为 PC-leptoskop 2050： 笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002， 电脑微型探头和定位装置 |
| PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH公司提供膜层测厚仪的探头，它*和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。 当启动statwin 2002时，一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 *功能操作*点击一下鼠标或键盘。STATWIN 2002用statwin 2002，可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。 文件和归档几乎是无限的。 此外，该软件附带了大量的统计功能，可以实现测量评估和批次。 除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度（如钢铁上的漆层或铬层）和导电材料上的非导电层涂层的厚度（如非铁金属上的漆层） ，测量范围到1200 μ m的标准探头，我们还有**的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头，双晶探头可测量厚度*12.5mm，我们同时还提供完整的配件。 |
| 订货信息 STATWIN 2002电脑软件 2904.001 用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0 |
| 探头，测量范围和订货号 |
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| 探头 |
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