品牌:德国Fischer 型号:XDVM-P 测量范围:*多24种镀层 测定对象:分析电镀溶液中的金属离子浓度。 测量精度:0.1% 分辨率:5um 电源:220V 尺寸:560*530*130(mm) 重量:35(kg)
有全系列的X-射线供应。详细的规格参见下面的表格。
*的设备遵循ASTM B568, DIN 50 987和 ISO 3497等*和国际标准。 HELMUT *CHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有*过17年的经验。通过对*相关过程包括X射线荧光测量法的*处理和使用了*新的软件和硬件技术,*CHER公司的X射线仪器具有其*的特点。
**的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))软件是仪器的*。它可以使仪器在没有标准片校准并**测量精度的情况下测量复杂的镀层系统,同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用WinFTM®V.6软件)
典型的应用范围如下:
- 单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
- 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
- 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
- 双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Br*,等等。
- 双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
- *多24种镀层(使用WinFTM®V.6软件)。
- 分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
- 分析电镀溶液中的金属离子浓度。