非破坏式光学薄膜分析系统ST6000

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商品信息

类型:薄膜测厚仪品牌:科美型号:ST6000 测量范围:100?~ 35?（mm）

ST6000

·工业规格
·适合测量液晶显示器
·适合TFT-LCD和STN-LCD使用

活动范围	370mm x 470 mm~
测量范围	100?~ 35?
光斑尺寸	40?/20?, 4?(option)
测量速度	1~2 sec./site (fitting time)
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR 电解质:SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4... 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 显示 : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx
选择	Contact Angle Measurement RS Measurement Using a 4-point Probe Tran*ittance Measurement
特征	通讯接口模块传达方式自动机械活动控制电荷耦合器件照相机自动调焦模式识别

联系方式

企业名：上海思龙科学仪器有限公司

类型：生产加工

电话： 021-35100022

联系人：屠争

地址：上海上海市上海市虹口区昆明路388弄2号2902室

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