类型:薄膜测厚仪 品牌:zg 型号:m 测量范围:0.0001（mm）

美国MATRIX手提式 X-射线镀层测厚仪
*款手提式 X-射线镀层测厚仪
这一款手提式测厚仪，在大型材料及各种形状配件镀层厚度的*检测上有着明显的优势。
*具备“批量测试”模式，即可以测量出一批小样品的总镀层厚度及平均镀层厚度
可广泛应用于建筑材料，电子，镀金行业及公证/检测机构的镀层检测。
单、双、三层镀层的厚度测量
无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的解决办法
对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量
现场的样品分析
基材管理的合金分类以及合金确认
软件：
基础参数分析（非标准和标准）：点测的关键应用"point-and-measure" Batch Measurement批量测量*能允许对许多小部分同时进行非接触测量。
快速ID合金分析： 与合金级别和化学成分匹配的光谱信号； 库存编辑和合金识别能力；
基础参数分析(FP): 这个组合包括21种元素： 钛，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，锆，铌，钼，铪，钽，铼，铅，银，锡，铋，锑等。（注意：总共可以安装25元素；还有附属的元素包括：镉，金，铂，钯，硒。）
技术数据：
电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。
X射线发生器： 银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50微安
测量尺寸： 接触样品表面测量时，7.75 mm
X射线探测管： Si-PIN高分辨率探测系统
尺 寸： 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm
重 量： 基体配置1.2kg；1.6kg带电池
参数调整：不锈钢316作为参考标准
配置说明：
微型银或钨X-射线管，5个准直器。
检测器：半导体高分辩率的检测器。
电源供应：包含两块可充电锂电池和充电器。
操作温度：-10 ~50摄氏度
FP软件测试包：测镀层薄膜厚度及金属元素分析

多年来，我们一直致力于为电镀、PCB、SMT、半导体等电子行业生产厂商及科研机构提供*的检测仪器和优质的技术服务。精诚仪器希望与广大客户建立更紧密的合作，提供更完善的服务

企业名：刘超

类型：商业服务

电话： 0755-89810199

联系人：刘超

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