偏光显微镜XPR-300C

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类型:偏光显微镜品牌:显微镜型号:XP-300C 仪器放大倍数:40-630X 目镜放大倍数:10X 物镜放大倍数:4X 10X 25X 40X 63X 重量:15KG（g）适用范围:地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业装箱数:1

生产各种:金相、生物、偏光、体视、荧光、倒置、工具、测量、视频显微镜等。推荐*产品：阿贝折射仪-2WAJ，测量显微镜15J

仪器的主要技术指标:

XP-300C型*偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等**常用的*实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。　　

本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。　

偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前*技术，多年研究开发的结果，在国内享有*对*.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

1.显微镜技术参数:

2.熔点仪技术参数:

热台组成	性能
显微精密控温仪	在 20倍物镜下工作温度可*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 &plun; 0.3 ℃、记忆点读数
显微加热平台	可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于&plun; 0.1 · 起始温度室温 ·工作区加热使用面积至少 1X1厘米 · 工作区温度梯度不过 &plun; 0.1 · 透光区域 2mm以上，可调 · 显示温度与实际温度误差不过 &plun; 0.2 · 热台可以随载物台移动在加热状态下高可使用 20倍物镜
注意：熔点测定（温度*过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）