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日本KETT LZ-200J 涂层测厚仪 膜厚计

日本KETT LZ-200J 涂层测厚仪 膜厚计
日本KETT LZ-200J 涂层测厚仪 膜厚计
  • 是否提供**:

  • 品牌/商标:

    日本KETT

  • 型号/规格:

    LZ-200J

  • 测量范围:

    0~1500um

  • 测定对象:

    可*的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚

  • 测量:

    0.5%

  • 分辨率:

    0.1

  • 电源:

    5#碱性电池×4

  • 尺寸:

    80(W)×80(D)×30(H)(mm)

  • 重量:

    1.1(kg)

普通会员
  • 企业名:深圳市欧野电子有限公司

    类型:经销商

    电话: 0755-28447778
    28446009
    28447900
    28447789

    手机:13692118383

    联系人:魏先生

    QQ: QQ:115184653

    邮箱:1151842653@qq.com

    地址:广东深圳深圳市龙岗区坂田五和南路102号701

商品信息

 

特点:  本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可*的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。

LZ-200J测定方法电磁式及高频涡流式测定对象磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上*缘层测定范围电磁式:0~1500um或0~60.0mils高频式:0~800um或0~32.0mils测定精度电磁式:<15um&plu*n;0.3um   >15um&plu*n;2%高频式:<50um&plu*n;1um       >50um&plu*n;2%分辨率<100um 0.1um    >100um 1um界限设定可设定上/下限数值测试单位公/英制互换显示方式LCD数显操作面板密封*水按键附属品铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书电源DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个体积80(W)×80(D)×30(H)重量1100g

联系方式

企业名:深圳市欧野电子有限公司

类型:经销商

电话: 0755-28447778
28446009
28447900
28447789

手机:13692118383

联系人:魏先生

QQ: QQ:115184653

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地址:广东深圳深圳市龙岗区坂田五和南路102号701

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