EL140S-M EL缺陷检测仪 
适用于电池片和组件，可检测缺陷包括： 
■裂片 
■微隐裂 

■破洞 
■断栅 
■短路 
■印刷不良 
■工艺污染等缺陷。 
■  *靶面CCD，靶面尺寸*15  ×25mm，是普通CCD靶面的6倍 ■镜头尺寸*∮52mm,是普通工业镜头进光面积的5-8倍 
■  *制冷温度，可达-50  ℃，*消除背景噪声 
■积分式*冷型红外增强CCD，950nm红外光透过率*97% 
■非鱼眼型镜头，避免了鱼眼镜头产生的图像扭曲、图像变形、边缘阴暗等缺陷，消除了此项重要误差 
■  *大的软件，品质*的硬件，*产线无故障生产运行。 
■  操作简便，功能齐备，*仪器*解决各种缺陷检测 
■  仪器细节设计*，消除人为误操作因素 
■  强大的软件功能，实现自动判别缺陷，自动报警，不合格图像单独存储 
■人工判别与自动判别相结合，可找出组件细微缺陷，实现*检测。 
■全自动检测---与产线结合，自动进样、自动定位、自动加电、自动检测、自动存储、自动检测、自动出样回归产线。实现组件*人工操作，避免人为损坏组件。 
■鼠标随动显示，任意指向目标位置，操作快速简便 
■*大检测尺寸可达        2200mm×1200mm   
■成像时间：0  ~  5000毫秒  可调节   
■图像*像素：不小于1200万像素   
■CCD制冷温度：*-50°C 
■CCD靶面尺寸：不小于25  mm  ×  15  mm   
■镜头尺寸：大尺寸进光镜头，镜头直径不小于∮52mm     
■可选配：光强度分布分析检测系统可以三维图像方式，直观、*地生成各部分发光强度分布图，并标出光强*数值。对各部分发电效率一目了然。

公司名称：武汉三工光电设备制造有限公司

公司地址：湖北武汉东湖新技术开发区武汉大学科技园武大园四路

公司官网：https://www.sunic.com.cn

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