大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA  FLASH；

 主控板兼容设计，只要更换主控板的主控IC，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！。

 采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCS  Flash 芯片，效率*；

 LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10*；并且探针可更换，维修方便，成本低；

 采用手动翻盖式结构，操作方便；

 上盖的压板采用*结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位；

 *的定位槽，*LGA定位*，生产效率高；

 整机24小时工作性能稳定*，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手！

探针材料：铍铜(标准)；

*缘材料：FR-4、PPS等；

 *小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；

 对Flash进行清空及分类挑选。

对Nand　Flash进行格式化，测试实际可以用容量。

 对Flash进行直接量产，*U盘生产效率。

 可以*TF卡1拖4的夹具；

 可以*测试Flash wafer晶圆探针台；

 可*三合一开卡器；

可*基于SSD和基于U盘FLASH的LGA测试治具；

 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；

可*UDP一拖十六测试夹具；

 可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的*格式*决方案；

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