SMM-300罐盖刻线检测仪，采用显微镜测量技术，测量罐盖刻线深度和剩余厚度。采用*清晰度CCD摄像系统，通过在显示器上显示罐盖刻线凹槽底部的清晰图像来方便定位，测量数据准确*、重现性好！罐盖装夹在一个3维工作台上，方便定位和测量。配置*数显千分表，精度*1um (0.001mm)。

其测量原理是采用显微镜对焦测量法，显微镜得到图像清晰表明对焦正确，显微镜焦点的位置高低变

化反映了“罐盖刻线”的深浅。采用硬质合金制造的球形的下测量头半径很小，显微镜对焦在下测量头，

将数显千分表调*，放入罐盖，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线

剩余厚度。放入罐盖，将显微镜对焦罐盖上表面（刻线边沿），调*，调整显微镜焦点，当在显示器上

显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线深度。

测量图像*清晰，*测量准确 

调*图像*清晰，*调*准确

SMM-300 罐盖刻线检测仪（电脑型）

优点

（1） 镜头“工作距离”达8.2mm（工作距离是指调焦清晰时镜头和被测物体表面的距离）。解决了EO盖刻线位置与盖边沿落差较大的问题。可满足各种罐盖的刻线测量。例如：RP、SOT、EO……。

（2） 采用*光学元器件，图像清晰，*检测数据准确。

（3） 可测量不同大小的罐盖。标配：*大罐盖直径达110mm，订货时可以选择更大；

（4） 与*技术同步的单镜头设计，可连续变倍，可调节相应的放大倍数，便于观察者观察。

（5） 使用日本*的测微计及显示仪表，分度值达1um。*测量结果准确。

（6） 配软件，可实现数据库管理和打印报表，便于数据统计和图像保存。

（7） 屏幕十字线功能。*校准点与测量点严格重合。

（8） 配有校准块。

（9） 夹具平台可升降，消除样品盖倾斜造成的误差

技术参数

  样品盖类型: RP、SOT、EO

    测量范围: 0-10mm

        分度: 1μm（0.001mm）

      重现性: 2μm (0.002mm)

镜头工作距离: 8.2mm

    放大倍数: 1000 X

        尺寸: 250 x 300m x 600 mm

        重量: 15 kg

仪器配置：

1) SMM-300刻线测量显微镜

2) 数据显示器和数据输出模块

3) CND_SMM1.0软件

4) 校准块 0.5mm,1.0mm

5) 校准夹具

选购：

6) 计算机

企业名：广东嘉仪仪器集团有限公司

类型：原厂制造商

电话： 0758-8522883

手机：13580615433

联系人：苏先生

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