LED大屏幕

型号/规格：
P25
品牌/商标：
信立兴

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产品分类

LED(74)
∟ LED显示屏(模组)(74)

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商品信息 更新时间：2012-03-10

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LED大屏幕相关知识：

　　②对于环形结构磁芯线圈，实验值较理论值小。根据式(8)，对于条形结构磁芯线圈，假设磁芯*磁路长度le=100lg，此时*磁导率μe≈100。若磁芯改为环形，则非闭合气隙长度lg≈0，此时*磁导率μe≈μr=2300，由理论计算可知，12mil黄色焊接质量合格LED在信号检测端感生电动势幅值约为1.4V;由图5(b)知，实验得到信号值约为220mV，实验值远小于理论值。LED大屏幕上述计算是在理想情况下进行的，在实际实验过程中，环形磁芯线圈是由U形磁芯和条形磁芯搭接而成的，搭接处气隙lg仍然存在，因而磁路不可能*闭合，由式(8)知，气隙对*磁导率影响很大，所以*磁导率仍小于相对磁导率，因此，实验值远小于理论值。

　　③不同磁芯结构均可实现LED封装缺陷的检测，但检测信号的信噪比差异较大。由图5可以看出，虽然实验中磁芯线圈采用不同结构，对于焊接质量合格的LED，其光激励检测信号均明显大于封装过程中芯片电*表面存在非金属膜的LED光激励检测信号，通过比较两者检测信号幅值的大小，可将封装过程中芯片电*表面存在非金属膜的LED捡出LED大屏幕。对图5(a)，实验使用的线圈中磁芯为条形结构，存在气隙lg，磁感应强度B增强倍数为*磁导率μe，同时检测信号易受外界干扰，因而检测信号幅值较小且存在较大的检测噪声，使得两种芯片光激励信号信噪比都较小，给后端信号处理带来难度，影响封装缺陷检测的*度。将线圈中磁芯搭接成环形后构成闭合磁回路，磁感应强度B得到*增强，磁损耗较小，受到空间电磁场的干扰相对也较小，所以检测信号信噪比得到显著*。

　　④不同磁芯结构影响谐振回路的工作频率。实验过程中，LC谐振回路的电容C相等，环形磁芯的*磁导率大于条形磁芯的*磁导率，因而环形磁芯线圈的电感L大于条形磁芯线圈的电感，所以其谐振回路的谐振频率较小;从图5可以看出，条形磁芯线圈构成的谐振回路的谐振频率约为9.75kHz，而环形磁芯线圈构成的谐振回路的谐振频率约为7.33kHz。LED大屏幕

　　⑤理论分析和实验结果分析可得，该方法对LED支架回路电流具有较高的检测精度，通过检测支架回路电流激起的磁场在线圈两端感生出电动势的大小，并与焊接质量合格的LED的检测信号进行比较，实现对封装过程中存在封装缺陷的LED进行检测。

　　3结论

　　针对引脚式LED芯片封装过程中存在的封装缺陷问题，基于p-n结的光生伏*应，利用电子隧穿效应分析了一种封装缺陷对LED性能的影响LED大屏幕。理论分析表明，当LED芯片电*表面存在非金属膜层时，流过LED支架回路的光电流小于光生电流，随着膜层厚度的增加，回路光电流逐渐减小，其检测信号减小。通过非接触法检测待测LED光激励信号并与焊接合格的LED光激励信号进行比较，实现对引脚式封装LED芯片在压焊工序中/后的功能状态及封装缺陷的检测。分析了影响检测精度的因素。用焊接合格与芯片电*表面存在非金属膜的12mil黄LED样品进行实验，LED大屏幕结果表明，该方法可以检测LED支架回路微安量级光生电流信号，并具有较高的信噪比，检测结果能实现对焊接质量合格与芯片失效或存在封装缺陷的LED的区分，*对LED芯片在压焊工序中/后的功能状态及封装缺陷检测的目的，从而降低LED生产成本、*产品质量、避免使用存在缺陷的LED造成重大损失。