Heidenhain(海德汉）光栅尺

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Heidenhain(海德汉)

Heidenhain(海德汉）光栅尺

发布时间：2012-07-14 点击率：728

海德汉光栅尺 haidehan

LC 100系列*对式直线光栅尺直接提供*对位置值，测量前无需回*。同时还提供增量信号。它们与LS 100系列增量式直线光栅尺的安装尺寸相同，机械结构也相同。由于LC100和LS100系列直线光栅尺的精度高和可定义的温度特性，*适用于NC数控机床应用。

T*e	测量方法	精度等级	*对位置值	测量长度
LC 182	*对位置	± 5 μm\|± 3 μm	EnDat 2.1	140 mm4240mm
LC 183	*对位置	± 3 μm	EnDat 2.2	140 mm4240mm
LC 1*	*对位置	± 5 μm\|± 3 μm	串行接口 Fanuc 01	140 mm4240mm
LC 193F	*对位置	± 5 μm\|± 3 μm	串行接口Fanuc 02	140 mm4240mm
LC 192M	*对位置	± 5 μm\|± 3 μm	*三菱串行接口**	140 mm4240mm

*Te**	测量方法	信号周期	精度等级	增量信号	测量长度（mm）
LS 177 单场扫描	增量式	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	TTL x 5 or x 10	140至3040
LS177C单场扫描	增量式距离编码	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	TTL x 5 or x 10	140 至3040

LS 176	增量式	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	TTL	140 至3040
LS 176C	增量式距离编码	20μm	±5μm \| ±3μm	TTL	140 至3040
LS 187	增量式	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	1 Vpp	140 至3040
LS 187C	增量式距离编码	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	1 Vpp	140 至3040
LS186 / LS186C	增量式距离编码	20μm	± 5 μm\|± 3 μm	TTL / 1 Vpp	140 至3040

LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此，*适用于很高重复精度的应用

*Te**	测量方法	增量信号	精度等级	信号周期	参考点	测量长度（mm）
LF 183	增量式	1 VSS	± 2 μm ± 3 μm	4 μm	每50 mm可用磁条选择	140至3040
LF 183C	增量式	1 VSS	± 2 μm ± 3 μm	4 μm	距离编码	140至3040

大测量长度
LB系列增量式光栅尺的测量长度可达30米。其测量基准为AURODUR光刻工艺制造的钢带光栅尺。在光栅尺外壳安装好之后，将钢带光栅尺穿入尺座中并进行预紧并将两端固定在机床铸件上。
LC 400系列*对式直线光栅尺直接提供*对位置值，测量前无需回*。同时还提供增量信号。同LS 400系列增量式直线光栅尺一样，它精度高并具有可定义的温度特性，*适用于NC数控机床。

*Te**	测量方法	增量信号	信号周期	精度等级	*对位置值	分辨率	测量长度
LC 493F	*对式	-	-	± 3μm ± 5μm	Serial Interface Fanuc 02	0,01 μm 0,05 μm	70至 2040
LC 493M	*对式	-	-	± 3μm ± 5μm	High Speed Serial Interface	0,01 μm 0,05 μm	70至 2040

*Te**	测量方法	增量信号	信号周期	精度等级	参考点	测量长度
L S487	增量式	1 VPP	20 μm	± 3μm ± 2μm	一个或带距离编码	50至 1220
LS477	增量式	TTL	4μm/2μm	± 3μm ± 2μm	一个或带距离编码	70至2040

LF系列增量式光栅尺的栅距更小。因此，*适用于很高重复精度的应用。

*Te**	测量方法	增量信号	信号周期	精度等级	参考点	测量长度
L F481	增量式	1 VPP	4 μm	± 3μm ± 2μm	一个或带距离编码	50至 1220

LS600 LS300系列增量式直线光栅尺用于简单定位应用，例如手动操作机床。

*Te**	测量方法	增量信号	信号周期	精度等级	参考点	测量长度
L S388C	增量式	1 VPP	20 μm	± 3μm ± 2μm	一个或带距离编码	70至 1240
L S328C	增量式	TTL	20 μm	± 10μm	距离编码	70至 1240