X-射线薄膜镀层测试仪是一款*大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手,可同时分析*多24个元素或五层以上镀层.元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％,镀层厚度*薄可达0.005um，一般在20um内,小孔准直器（*小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。X-射线镀层测试仪具备*移动平台（定位精度小于0.005mm）。可任意多个可选择的分析和识别样品,相互*的基体效应校正样品.多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的*外层Au）,长期工作稳性为0.1um（对少于1um的*外层Au）。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
适用于黄金，铂，银等贵金属和各种*饰的含量检测和金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
应用行业：主要用于贵金属*和*饰*行业；银行，*饰销售和检测机构；电镀行业。

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