薄膜镀层分析仪

型号/规格：
XULM
品牌/商标：
菲希尔*CHER

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仪器/仪表(31)
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商品信息

菲希尔XDLM是一款应用广泛的能量色散型X射线薄膜镀层分析仪，适合*测量薄镀层厚度及材料分析，同时还能全自动测量大规模生产的*部件及印刷线路板。其采用比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行*测量，为了使每次测量*在*优的条件下进行。菲希尔XDLM配备了可电动调整的多个准值器及基本滤片，无论是镀层系统还是固体和液体样品，薄膜镀层分析仪*在没有标准片的情况下进行分析和测量。并且有着良好的长期稳定性，不用经常佼准仪器，可节省时间。

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