fischer 公司有着60多年对膜层厚度、微硬度及物料测量的经验，HELMUT *CHER公司不断在基本原理上开发出*的测量技术来解决一些新的检测要求。为了不断完善客户的要求， fischer 公司推新立异，在测量膜厚方面，采用*新的FP数字计算方法，使测量数据更*。fischer的产品包括了*完整的测量分析仪器，广泛应用在不同的检测方法及工业领域，对于不同的样品结构，fischer公司都有合适的测量方法去测量，使测量的数值，更加准确，测量方法如电磁感应、电涡*应、Beta反向散射、库伦、微硬度及X RAY萤光射线等等。发展到今天，因为电子及软件的*，所以即使是*小型的测量仪器都可以包含了测量数据统计及分析的功能，这是十分重要的因为正确的分析是可以给生产者尽快作出正确的纠正，这些fischer的膜厚仪*轻易做到，是你可信赖的仪器。
菲希尔从事X－RAY膜厚仪研究达20年之久，今天在*市场的占有率*90%，在世界上都有着很好的评价，fischerr的名字就代表着*、精密、品质的仪器。产品样式*，不论是涂层或电镀层在磁性及非磁性的物料上，还是金属成份分析，不论是基本或是*的膜厚测量仪器，总会找到一款合适的仪器。fischer 膜厚仪，可测量大型产品中的一些*微含量的成份，例如：ROHS的筛选测量、黄金的成色、及宝石的成份测量等等。这是在生产上的品质管理*配的设备。

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