II类介质： 具有较高的介电常数，容量可做到比I类电容器高，具有稳定的温度特性。
适用于容量范围广，稳定性要求不高的电路中，如隔直、耦合、旁路及鉴频等电路中。电器类别检测项目使用温度静电容量损耗*缘电阻耐电压X7R_55℃～ 125℃以25℃ &plu*n;2℃、 1KHZ、1.0V测试时，容量在误差允范围之内;J、K以25℃ &plu*n;2℃、1KHZ、
1.0V测试时，损耗*规定标准; DF ≤3.5%施加电压U=UR,在充电电流小50MA,测试时间60S内,IR*规定标准: C ≤25NF I.R. ≥4000MΩ C＞25NF I.R. ≥100Ω × F测试电压U=2.5UR(充放电电流小50MA,持续时间1~5S,无异常)
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