DP-X-3680是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，*了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。

仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行*检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。*分析*，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。

强势功能

1. 基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。

2．包裹样品检测辨别系统。

3．样品室高清成像定位系统，方便微小样品定位测量。

4．电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合，维持内部工作环境稳定。

5. 内部动力学风道设计，快速排出多余热量。

6．*位快速自动校准。

7．双箱体结构，*干扰能力强且方便硬件升级。

8．仪器工作方法任意开发。

9. 定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。

10.定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图比较法，光标自动寻峰等。

11.测试报表根据客户要求*设计。

12.温度系数：温度变化1度，电压变化不*过0.01%
13.稳定性：经过半个小时预热后，每8小时变化不*过0.05%
14.准直器：使用*的滤波片自动更换，**区的峰背比。
15.彩色液晶显示屏
16.自主研发的多功能数字集成新型放大器，*降噪比。

整机技术规格

1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm

2. 可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm

                   开仓测量：无限大

3. 仪器重量：50公斤

4．工作环境温度：0——35℃

5. 工作环境相对湿度：≤80%

6. 元素分析范围：铝（Al）——铀（U）

7. 含量分析范围：1PPM——99.999%

8．测量时间:10——180秒可调

9. 激发源：低功率X射线管

10．高压电源：美国Spellman原装*高压电源

11．探测器：美国Amptek原装*电制冷Si-Pin半导体探测器

12. 仪器分辨率：⁵⁵Fe的能量为5.9Kev的MnK_α线，分辨率*149eV

13．多道分析器：2048道

14．软件：基于WINDOWS的强大工作软件

15. 客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法

16．工作电源：交流 220V  50Hz