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介电常数介质损耗测试仪 型号：BDAT-A
一、主要特点：
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。
印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。
日本AET 公司针对CCL/印刷电路板设计空洞共振腔测试装置 , *裁成小长条状即可量测*的复介电常数(Dk), 尤其是低损耗(Df)的样品, 测量值*精准。
用于介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。
二、介电常数介质损耗试验仪主要技术特性
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为*材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻*测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量*采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为*。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路*并联及串联电阻，传输线的特性阻*等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主电容调节范围 18 ～ 220pF
主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字
搭配了*的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
