gdat-c
介电常数测试仪
企业名:北广精仪仪器设备有限公司
类型:生产企业
电话: 010-66024083
手机:13121673985
联系人:王燕
邮箱:13121673985@163.com
地址:北京北京市北京市海淀区建材城西路
介电常数介质损耗试验仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气*缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数介质损耗试验仪概述
GDAT高频 Q 表作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻*测试仪器,测试频率上限*目前国内*高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项*技术:
一、介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为*材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻*测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量*采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为*。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路*并联及串联电阻,传输线的特性阻*等。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
BD916介质损耗测试装置技术特性
平板电容器: *片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选
*片间距可调范围:≥15mm
2. 夹具插头间距:25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.测微杆分辨率:0.001mm
电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量*缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据*。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器*片组成。
平板电容器*片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
企业名:北广精仪仪器设备有限公司
类型:生产企业
电话: 010-66024083
手机:13121673985
联系人:王燕
邮箱:13121673985@163.com
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