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C1光谱共焦纳米级位移计

供应C1光谱共焦纳米级位移计
供应C1光谱共焦纳米级位移计
  • 型号/规格:

    C1光谱共焦纳米级位移计

  • 品牌/商标:

    HONEYWELL(霍尼韦尔)

普通会员
  • 企业名:深圳科博芯电子有限公司

    类型:生产企业

    电话: 0755-83387026

    手机:13823676822

    联系人:黄先生

    QQ: QQ:583757894

    邮箱:195847376@qq.com

    地址:广东深圳深圳龙岗区龙达工业区306

商品信息

主要特点

纳米级分辨率;与光强度无关,与被测体反射系数无关;

适用各种金属、非金属,以及透明材料的表面位置、位移测量。并与被测体表的亮暗无关;

*紧凑光路结构,光学传感器头离控制器几米远,给使用带来方便;

单向可测玻璃厚度、透镜厚度,以及透明薄膜厚度测量;

与三角反射法不同,几乎无反射角要求,且无反射平面阻挡之影响,因此可用于小孔深度测量;

对环境要求不高:无需附加背景光,对被测体温度不敏感, 对被测体表面色差和纹理不敏感;

     
 


 

技术规格

安装尺寸

传感器

C1光谱共焦纳米级位移计

量程mm

0.3

分辨率 nm

25

线性%

0.5

重复性nm

10

测量间隙mm

4

光源卤素灯W

55

光斑直径µm

9

测量垂直度º

90±25

响应Hz

301500

输出

数据接RS232,模拟010V

重量g

传感器约30,仪器约4000

我们保留规格变化而不另行通知的权利。

联系方式

企业名:深圳科博芯电子有限公司

类型:生产企业

电话: 0755-83387026

手机:13823676822

联系人:黄先生

QQ: QQ:583757894

邮箱:195847376@qq.com

地址:广东深圳深圳龙岗区龙达工业区306

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