x-ray膜厚仪（膜厚测试仪）*短短数秒钟，*从17号元素氯到92号元素镭的*元素*准确测定.可测量：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br*，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
X-RAY镀层膜厚仪 在技术上一直以来都*于*的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,*薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多4层及24种元素。
B ：*度*于世界，*到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中*数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、*大值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，*小可达0.025 x 0.051毫米

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