光镀层测厚仪在技术上一直以来都*于*的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够

测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,*薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。

博曼膜厚仪:详述
?元素范围：铝13到铀92。
?x射线激发能量：50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管
?探测器：硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
?测量的分析层和元素：5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
?过滤器/准直器：4个初级滤波器与4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
?聚焦：多固定聚焦与激光系统
?数字脉冲处理：4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括X射线时间修正和*X射线积累
?电脑：英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7 *64位等效
?镜头：1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
?电源：150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹
?工作环境：50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,无冷凝水
?重量：32公斤
?内部尺寸：高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
?外形尺寸：高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)

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