美国博曼X-RAY膜厚测试仪

型号/规格：
XRF-1
品牌/商标：
美国博曼

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商品信息

博曼x-ray膜厚测试仪特点:
X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶;任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
装备有安全防射线光闸
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

X-RAY镀层膜厚测试仪在技术上一直以来都领先于全世界的测厚行业,X-射线荧光镀层厚度测量仪能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。
A：区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多4层及24种元素。
B ：度领先于世界，到0.025mil
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求,如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、值、值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，可达0.025 x 0.051毫米

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