金东霖科技有限公司销售膜厚测试仪，镀层膜厚仪，X-RAY膜厚仪等中国总代理，

半导体博曼膜测量仪主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：

应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.

探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时

多达25元素，博曼膜厚仪特别适合于小的镀层测量，如端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业．

也有杰出的表现．可测量．单层．双层，合金层等多种镀层。

博曼膜厚测试仪，镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-射线镀层测厚仪，可满足所有镀层厚度测量需求的双检测器型镀层测量仪，实现了超微小面积，高精度无损测量。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 可测元素范围：钛(Ti) –铀(U)可测量厚度范围：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.

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